能量色散XRF光谱仪- SPECTRO MIDEX

上照式小焦点带样品台的ED-XRF

SPECTROMIDEX仪器特点：

·       SPECTRO MIDEX是德国斯派克分析仪器公司推出的第三代微区分析X射线荧光光谱仪。不仅可对样品的微小区域进行元素成分快速无损地检定，还可对大样品地表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍，233×160mm）进行元素分布分析。

·       上照式结构，风冷式细焦点X射线管作为激发源，非常适用微小区域样品的激发。

·       大容量的样品室（480*350*305mm），安装了CCD摄像机，可准确、快速地确定分析位置。

·       SPECTRO MIDEX LD（长距离）型仪器，工作距离达20mm，可分析样品表面的“凹陷”部分，对电子线路板、形状不规则的珠宝首饰及检测戒指内表面的分析尤为适合，对凹凸不平的样品可分别标识连续分析。

·       用户自定义元素分布显示，可选取不同的区域进行放大，并以任意格式保存。

·       配备了FP+基本参数法软件，用于分析多种金属合金。

·       高分辨硅漂移检测器，半导体制冷，计数率高达1,000,000cps。

·       可配专业的镀层测厚软件，最多8镀层的厚度和元素组成分析。

·       应用范围：电子行业电子元器件RoHS指令的快速检测；金属、汽车、航空领域部件的成分检测；珠宝首饰及贵金属合金的分析；司法检定分析；样品表面的元素分布分析。